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InGaAs APD SENSORS

InGaAs APD SENSORS 主要特点


▶  具有线性和盖革两种工作模式

优化盖革模式,具有单光子探测能力

TO8带TEC封装,最高可以封装三级TEC

TO46带光纤封装(不带TEC)


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  • InGaAs APD SENSORS 主要特点

    ▶  具有线性和盖革两种工作模式

    ▶  优化盖革模式,具有单光子探测能力

    ▶  TO8带TEC封装,最高可以封装三级TEC

    ▶  TO46带光纤封装(不带TEC)

    • ▼ 光电性能
    • 特性参数 符号 测试条件 范围 典型值 单位
      光谱响应范围 λ   900 ~ 1700 1550 nm
      反向击穿电压 Vb T=22±1℃ , ID=10μ , Ψe=0 -40 ~ -90 -60 V
      击穿电压温度系数 δ T=-40~30℃ , Ψe=0 0.1 ~ 0.15 0.12 V / k
      响应率 R T=22±1℃ , VDC=Vb-2V , λ=1550nm 5 ~ 10 8 A / M
      暗电流 ID T=22±1℃ , VDC=Vb-2V , Ψe=0 0.1 ~ 1 0.3 nA
      增益 M 盖革区 104 ~ 106 105  
      单光子探测率 PDE T=-40±1℃ , λ=1550nm >20 20 %
      暗计数率 DCR T=-40±1℃ , PDE=20% <10 5 kHz
      *注:T测试温度,VDC测试电压,Ψe输入光功率
    • ▼ 最大额定值
    • 反向工作电流 正向工作电流 工作温度 储存温度
      1mA 1mA -40 ℃ ~ +30 ℃ -55 ℃ ~ +80 ℃
  • 更多短波红外应用领域
    边海防监控 Border Defense & Surveillance
    遥感多光谱成像 Remote-Sensing Multispectral  Imaging
    半导体晶圆检测 Semiconductor Inspection
    塑料分选 Recycling
    材料分选 Agricultural Inspection
    液位检测 Industrial Inspection
    荧光近红外区成像 NIR-II Fluorescence Imaging
    激光光斑分析 Laser Beam Profiling
    机器视觉 Machine Vision
    艺术品检测 Art Inspection
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